偏光顯微鏡產品介紹
偏光顯微鏡Axio Imager
不同種主機架可供選擇
編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求。
自動組件識別技術值得信賴
自動組件識別技術，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。
此外，ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統能自動對組件的變換進行登記。
無振動設計確保可靠的長時間成像
借助 Axio Imager 出色的穩定性得以實現可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。
物鏡轉盤、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。
這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創建理想的測量條件，以獲得超高質量的觀測結果。
擴展功能令操作更舒適
簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。
保存個性化設置并實現一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。
或者通過任意擺放的控制面板（可完全與主機架分離）來操作偏光顯微系統。
觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置，以生成可重現且可靠的觀測結果。
錐光觀察技術：使用偏光顯微鏡可以實現快速可靠的晶體結構分析
偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。
通過調節型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至 10μm 的晶體粒度。
已對中的 Bertrand 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。
始終如一的測量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
光程差測定或應變測量
大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。
固定光程差的補償器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋轉角度 +/- 8°
具有可變光程差的補償器
光楔補償器 0-4 λ
測量補償器
Berek 傾斜補償器 0-5 λ
Berek 傾斜補償器 0-30 λ
偏光顯微鏡技術參數
偏光顯微鏡Axio Imager參數
光學系統 | ICCS光學系統 |
鏡體 | FEM設計 ACR位置編碼 |
ICCS物鏡 | 5X 10X 20X 50X 100X 可選1.25X、 2.5X、 150X |
目鏡 | 10X/23 |
物鏡轉盤 | 研究級7孔或6孔明暗場萬能物鏡轉盤 |
觀察功能轉盤 | 6－10位有預留位置便于日后升級 |
觀察功能 | 反射光: 明場、ADF高級暗場、圓偏光、微分干涉、熒光 |
透射光 | 明場、ADF高級暗場、圓偏光、相襯 |
光源 | 12V100W鹵素燈,智能化光路管理器,光強自動可調 |
光學附件 | 目鏡測微尺，臺尺，各種濾色片 |
數字化平臺 | 可配圖像分析系統(數碼相機、攝像頭、圖像分析軟件) |
偏光顯微鏡標準配置
配置 | ||
序號 | 名稱 | 數量 |
1 | 主機 | 1 |
2 | 光學系統 | 1 |
3 | 目鏡 | 1 |
4 | 物鏡 | 1 |
5 | 物鏡轉盤 | 1 |
6 | 觀察功能轉盤 | 1 |
7 | 光源 | 1 |
8 | 目鏡測微尺 | 1 |
9 | 數字轉化平臺 | 1 |
10 | 金相分析熱臺（選配） | 1 |
11 | 自動掃描臺（選配） | 1 |
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