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場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,掃描電子顯微鏡, 德國(guó)進(jìn)口顯微鏡,分析電子顯微鏡

型號(hào)：Sigma 系列

品牌：蔡司Zeiss

產(chǎn)地：德國(guó)

遵循標(biāo)準(zhǔn):

簡(jiǎn)介:

創(chuàng)誠(chéng)致佳為您提供掃描電鏡、臺(tái)式電子掃描顯微鏡、分析型掃描電鏡、臨界點(diǎn)干燥儀、高真空鍍膜機(jī)、超薄切片機(jī)、倒置式工業(yè)顯微鏡等產(chǎn)品介紹及銷(xiāo)售。本{content.title}的特點(diǎn)：德國(guó)蔡司Sigma 系列產(chǎn)品場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析. 將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品介紹

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品Sigma系列介紹：

Sigma 系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。

靈活的探測(cè)，4步工作流程，高級(jí)的分析性能

將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。

Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

Sigma 300 性?xún)r(jià)比高。Sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測(cè)器，可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品應(yīng)用：

用于清晰成像的靈活探測(cè)

利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測(cè)器，獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和可變壓力探測(cè)器，在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。

自動(dòng)化加速工作流程

4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶(hù)環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
首先，先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航，然后設(shè)置成像條件。
接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的最后一步，將結(jié)果可視化。

高級(jí)分析型顯微鏡

將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 一流的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能，特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。

基于成熟的 Gemini 技術(shù)

Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響，并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率，通過(guò)二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。

用于清晰成像的靈活探測(cè)

利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
利用 BSD4 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。

Sigma 300 可提供

集成式 EDS 解決方案:在低能量分析應(yīng)用中同時(shí)實(shí)現(xiàn)高清晰度成像

Sigma Element 是一種集成式 EDS 解決方案，擁有高可用性和低電壓靈敏度。僅需使用一臺(tái)計(jì)算機(jī)來(lái)控制 EDS 和 SEM，進(jìn)而大大提升了該集成化解決方案的易用性。

同時(shí)，借助專(zhuān)門(mén)為顯微鏡和 EDS 操作設(shè)計(jì)的用戶(hù)界面可實(shí)現(xiàn)并行控制。
? 集成化：通過(guò)集成化，結(jié)合高清晰成像與快速分析，從而獲得不錯(cuò)結(jié)果
? 定制化：根據(jù)不同的用戶(hù)需求定制軟件
? 靈敏度：獨(dú)特的氮化硅窗口增強(qiáng)低能X射線(xiàn)的探測(cè)靈敏度

拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng):完全集成化的拉曼成像

獲取樣品中化學(xué)結(jié)構(gòu)的指紋信息：聚焦拉曼光譜成像可擴(kuò)展您的蔡司Sigma 300 掃描電鏡性能。分析獲得樣品分子結(jié)構(gòu)和結(jié)晶信息。

通過(guò)拉曼成像與EDS數(shù)據(jù)可進(jìn)行3D 分析并與SEM圖像關(guān)聯(lián)。完全集成化的拉曼成像掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)使你充分發(fā)揮SEM和拉曼系統(tǒng)的功能。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)參數(shù)

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡參數(shù)：

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)配置

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡可選配件

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡相關(guān)視頻

暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡資料下載

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場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡相關(guān)產(chǎn)品

日本尼康JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡可以簡(jiǎn)單轉(zhuǎn)換高真空/低真空兩種模式;使用傾斜旋轉(zhuǎn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)；可以從多角度觀察樣品。

Leica EM CPD300臨界點(diǎn)干燥儀可以完成微型機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）等樣品的干燥。像花粉、組織、植物、昆蟲(chóng)等等生物樣品，以及如微型機(jī)電系統(tǒng)（MEMS：Micro Electro Mechanical Systems）等樣品的干燥，使其適宜于SEM檢測(cè)，可使用徠卡EM CPD300臨界點(diǎn)干燥儀來(lái)完成，干燥過(guò)程全自動(dòng)控制。

采用革新設(shè)計(jì)的Leica EM TP是第一臺(tái)能夠進(jìn)行樹(shù)脂滲透，可同時(shí)應(yīng)用于光鏡和電鏡的組織處理儀，儀器自帶加熱/制冷組件，可預(yù)熱/預(yù)冷試劑，維持用戶(hù)設(shè)定的處理溫度。

Leica EM VCT500真空冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫，真空或保護(hù)氣體條件下傳輸樣品。它可以連接您的工作流程系統(tǒng)，憑借主動(dòng)樣品冷卻和全新的閥門(mén)概念優(yōu)化您的樣品傳輸，并在對(duì)接后在工作流程中隨時(shí)監(jiān)控樣品的溫度和真空度。