試.jpg "硬度測(cè)試")
儀器.jpg "顯微鏡")
儀.jpg "質(zhì)構(gòu)儀、物性分析")
.jpg "橡膠制品測(cè)試")
機(jī).png "萬 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
量?jī)x.jpg "厚度測(cè)量")
量?jī)x/測(cè)厚儀-reseto-方.jpg "粗糙度儀")
測(cè)儀器.jpg "表面光學(xué)檢測(cè)")
測(cè)量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測(cè)量")
Touch Probe 掃描探針產(chǎn)品介紹
圓柱形零件光學(xué)測(cè)量機(jī)
無與倫比的性能
光學(xué)和觸覺功能的結(jié)合，使轉(zhuǎn)動(dòng)部件實(shí)現(xiàn)了完整的測(cè)量控制。
一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，多種選擇。
一個(gè)全新的軸測(cè)量功能，結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測(cè)量系統(tǒng)。
觸摸式探頭
Vicivision測(cè)量系統(tǒng)現(xiàn)在配備了一個(gè)Renishaw掃描探針，安裝在光源頂部。探針可以互換，覆蓋整個(gè)長(zhǎng)度區(qū)域。
光學(xué)與觸覺結(jié)合
當(dāng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測(cè)量、形狀和螺母測(cè)量時(shí)，觸摸系統(tǒng)檢測(cè)不可光學(xué)測(cè)量的特征。
光學(xué)和觸摸組合可測(cè)量：
軸向和總軸向跳動(dòng)長(zhǎng)度；平面度；垂直性
鍵槽寬度；鍵槽深度；鍵槽長(zhǎng)度
Touch Probe 掃描探針技術(shù)參數(shù)
精度 | 重復(fù)性 | |
長(zhǎng)度值 | 3,5 + L/200 μm | 1 μm |
跳動(dòng)值 | 1.2 μm | 0.3 μm |
Touch Probe 掃描探針標(biāo)準(zhǔn)配置
Touch Probe 掃描探針可選配件
Touch Probe 掃描探針相關(guān)視頻
暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。
Touch Probe 掃描探針資料下載
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Touch Probe 掃描探針相關(guān)產(chǎn)品
測(cè)量機(jī)/x5.jpg "X系列微型工件測(cè)量機(jī)")
型號(hào):X5X10
MTL X5和MTL X10是專門設(shè)計(jì)用于測(cè)量微型機(jī)械零件、牙科植入物、手表零件和通用微型零件的光學(xué)測(cè)量機(jī)。
這種高分辨率的機(jī)器甚至能檢測(cè)到最小的細(xì)節(jié)。它具備為各種需求而設(shè)計(jì)的測(cè)量工具：靜態(tài)測(cè)量、六角螺帽和螺紋分析。
這種高分辨率的機(jī)器甚至能檢測(cè)到最小的細(xì)節(jié)。它具備為各種需求而設(shè)計(jì)的測(cè)量工具：靜態(tài)測(cè)量、六角螺帽和螺紋分析。
測(cè)量機(jī)/Touch Probe.jpg "Touch Probe 掃描探針")
型號(hào):Touch Probe
Touch Probe 掃描探針配備在Vicivision測(cè)量系統(tǒng)的光源頂部, 結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測(cè)量系統(tǒng)，使轉(zhuǎn)動(dòng)部件實(shí)現(xiàn)了完整的測(cè)量控制。可測(cè)量軸向和總軸向跳動(dòng)長(zhǎng)度、平面度、垂直性、鍵槽寬度、鍵槽深度、鍵槽長(zhǎng)度。
測(cè)量機(jī)/Techno.jpg "<strong>Techno系列模塊化測(cè)量機(jī)</strong>")
型號(hào):Techno系列
測(cè)量機(jī)/M2M3-VICIVISION.jpg "M2M3軸類測(cè)量機(jī)")
型號(hào):M2M3
M2M3軸類測(cè)量機(jī)專門設(shè)計(jì)適用于生產(chǎn)車間使用，其設(shè)計(jì)不僅可測(cè)量大軸類工件，還可以捕捉微小的細(xì)節(jié)，如斜面和小圓弧。從小零件到140*900mm的大工件測(cè)量高端產(chǎn)品。?幾秒鐘即可完成檢測(cè), 幾分鐘即可完成編程。
